集成 XRD 功能的賽默飛ARL 9900 X射線熒光光譜儀（納米到微米膜層特征分析）是一款高效的多功能 X 射線分析系統，兼具 XRF 和 XRD 技術，用于過程控制。ARL 9900 能夠滿足金屬工業高的化學分析精確度與可靠性需求、水泥工業過程相關的高分析需求，以及銅業和礦業的高質量控制需求。

賽默飛ARL 9900 X射線熒光光譜儀技術參數：

真空環境分析固體樣品

元素覆蓋元素 Be-U(安裝相應的晶體)

光管功率：1.2kW、2.5kW、3.6kW或4.2kW

進樣系統：8位或12位或98位

重量：約750kg

功率消耗4.8kVA

主要特點：

1、 能匹配自動化系統，實現進樣、測試和結果發送的全自動化。

2、 有XRD通道，能夠同時獲得元素組成和晶體結構的信息，如水泥生產過程中的游離CaO、C3S、C2S等，燒結礦中的氧化亞鐵等。

3、 可以安裝多達32個固定道，同時分析多個元素，提高測試效率。

4、 采用上照式的結構設計，測試結果更加穩定。

5、 可根據應用需求，選擇高壓發生器功率：1.2kW、3.6kW或4.2kW。

6、 光譜室真空恒溫控制，晶體有獨立的溫控系統，確保分析的穩定性和可靠性。

7、 莫爾條紋無齒輪測角儀，定位準確，轉動速度快。