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01簡介食品工業采用多種分析技術評估奶粉（如添加營養素的嬰兒配方奶粉）的營養價值。這些強化奶粉含有蛋白質、脂肪、碳水化合物、維生素和礦物質。能量色散X射線熒光光譜（EDXRF）被用于生產線附近監測奶粉中的元素含量。其快速簡便的樣品制備和較短的測量時間有助于優化生產過程并縮短周轉時間。在先前的應用說明（XRF-AN41967）中，已討論了結合多種標準品使用經驗校準方法測定Na、Mg、P、Cl、K、Ca、Mn、Fe、Cu和Zn。當缺乏大量標準品時，無標樣基本參數法仍可進行可靠的（...

01引言爐渣產生于煉鐵和煉鋼的不同階段，包括高爐、轉爐、堿性吹氧爐、電弧爐或鐵（鋼）水包等環節。在高爐中，爐渣主要由礦石中的雜質、助熔劑和焦炭灰形成，其成分是氧化硅、氧化鋁、鈣、鎂的硫化物和氧化物，以及少量錳和鐵的氧化物組成的復雜混合物。在電弧爐中，爐渣的形成過程可以通過加入氧、碳、石灰石和氧化鎂進行控制。氧和碳反應生成CO，促使錳和鐵以有價值的元素狀態存在，而非氧化物形式。堿性爐渣有助于中和酸性物質，從而延長爐壁耐火磚的使用壽命。因此，適時監測爐渣成分是控制冶煉過程的關鍵環...

01前言鉛（Pb）可添加在玩具油漆涂層中，使油漆涂層堅硬而富有韌性，也可以直接添加到塑膠玩具基材中，增加其強度，而且原料生產中所使用的色粉、色母或穩定劑等都有可能含Pb。兒童Pb中毒會造成多系統的損害，特別對兒童智力發育的影響尤為顯著。因此Pb含量一直是玩具安全檢測中的重點項目，也是玩具生產中的主要質控項目。本研究使用X射線熒光法檢測玩具產品中的Pb含量，考察了管電壓、測量時間、濾光片等條件，選擇合適的檢測參數及方法，實現了Pb含量的快速檢測。相比傳統檢測方法，具有無需前處理...

01引言開采的礦石，濃縮物及其精練產品的元素分析是任何礦石開采和金屬精練工藝的重要組成部份。世界上已安裝幾千臺X射線熒光光譜儀就證明它是非常合算和可靠的元素分析技術。礦石和金屬都能在固體狀態分析，大多數測試可以由未經培訓的人員進行并能得好的精密度，這樣，XRF就免除了傳統濕法化學分析的困難，費用和延遲。本文敘述了使用ThermoARLQUANT'XEDXRF分析幾種硫化物，礦石中Zn,Pb,Ba,Fe和Si的典型結果。02儀器ARLQUANT'X使用高靈敏度的檢測器可以測定從...

要保證膜類樣品元素分析的準確性，需要從多個方面進行綜合考慮和操作。以下是一些關鍵措施：1、選擇合適的檢測方法：根據膜類樣品的特性和檢測目的選擇合適的檢測方法，如X射線熒光光譜法（XRF）、原子吸收光譜法、電感耦合等離子體質譜法（ICP-MS）等。每種方法都有其優缺點和適用范圍，因此選擇時需充分考慮實際情況。2、設備選用和維護：選擇質量可靠、性能穩定的檢測設備，如高靈敏度的X射線熒光光譜儀系列等。對設備進行定期維護和校準，確保設備處于正常工作狀態，以減少因設備問題導致的測量誤差...

在現代科學研究與工業應用中，了解物質的內部結構和特性是至關重要的。X射線衍射儀，作為一種高精度的分析工具，在這方面扮演著重要的角色。衍射儀基于X射線與晶體物質相互作用時的衍射現象，通過分析衍射圖譜來揭示晶體的原子排列和結構信息。當X射線以特定的角度射向晶體時，會在晶體內部產生干涉現象，形成特定的衍射圖譜。不同的晶體結構會導致不同的衍射圖案，從而可以通過分析這些圖案來確定晶體的結構。1、X射線發生器：通常包括一個電子槍和一個靶材，電子槍發射高能電子束撞擊靶材產生X射線。2、樣品...

X射線衍射儀的主要部分包括X射線發生器、測角儀、X射線探測器以及X射線系統控制裝置。以下是對這些主要部分的詳細介紹：1、X射線發生器：這是產生X射線的裝置，通常由X射線管、高壓發生器、管壓和管流穩定電路以及各種保護電路等部分組成。現代衍射用的X射線管多為熱電子管，有密封式和轉靶式兩種。2、測角儀：用于測量衍射角度（2θ）的裝置，是X射線衍射儀中的核心部分，用來精確測量衍射角。它確保X射線以特定的角度照射到樣品上，并記錄下衍射后X射線的角度變化。3、X射線探測器：用于測量X射線...

波長色散熒光光譜儀的工作原理是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線），并通過分光晶體和探測器系統對產生的特征X射線進行測量，從而進行物質成分分析。以下是具體介紹：1、激發過程：當樣品被X射線管產生的高能X射線照射時，樣品中元素的原子內殼層電子會被激發，形成空穴。這些空穴隨后由外層電子躍遷填補，過程中釋放出具有特定能量的特征X射線。2、熒光產生：受激發的原子發射出特征X射線，即次級X射線，這些射線帶有元素特定的能量或波長信息。這一過程稱為熒光...

在材料科學的微觀世界中，納米到微米尺度的膜層扮演著至關重要的角色。它們擁有物理、化學和生物學特性，為各類現代技術的應用提供了新的可能性。對這一尺度范圍內膜層的特征進行深入分析，有助于我們更好地理解并利用這些材料的特性。膜層厚度是最基本的特征之一，它直接影響到材料的功能與性能。在納米到微米級別，即使是幾個納米的厚度變化也會顯著影響到膜層的光學、機械和傳輸特性。精確控制和測量這一范圍內的膜層厚度，通常需要借助高精度的儀器如原子力顯微鏡（AFM）或者橢圓偏振儀。孔隙率是另一個關鍵指...

導言X射線衍射(XRD)被廣泛認為是礦物學分析的黃金標準方法。無論是采礦還是研究，X射線衍射儀在各種領域中都有著廣泛的應用，從礦山運營的常規質量保證、質量控制到解析粉末中的粘土結構等。為了更好地支持研究和加工，X射線衍射儀的多功能性需求也在不斷增加。現代工藝地質學的應用不僅要求儀器具有極少的停機時間，還需要能夠快速、精確地收集數據的能力。此外，實驗室通常希望簡化數據收集與分析的過程，以提高效率。儀器介紹本次實驗所使用的是賽默飛的ARLX’TRACompanion，此臺設備是高...